PAM75-J1探針的具體介紹

PAM75-J1探針是一款高精度、高可靠性的測試探針，廣泛應用于電子制造和半導體測試領(lǐng)域，以下是對PAM75-J1探針的具體介紹：

1. 產(chǎn)品概述

基本參數：PAM75-J1探針屬于PM75系列，其針管由磷銅制成并鍍金，彈簧部分采用不銹鋼線(xiàn)，套管為黃銅管鍍金，這種設計確保了探針的高導電性和耐用性。

尺寸規格：該探針的總長(cháng)度為27.8mm，直徑為1.02mm，鉆孔尺寸為1.4mm，這些規格使其適用于多種測試環(huán)境，特別是高密度電路板的測試。

2. 技術(shù)特點(diǎn)

額定電流與接觸電阻：PAM75-J1探針的額定電流為3安培，接觸電阻為50毫歐姆，這意味著(zhù)它在高電流條件下仍能保持低電阻，確保測試的準確性和穩定性。

接觸彈力：該探針的接觸彈力為120g，這一適中的彈力能夠有效保證與被測點(diǎn)的穩定接觸，同時(shí)避免對被測器件造成損傷。

3. 應用領(lǐng)域

電子制造：在電子制造業(yè)中，PAM75-J1探針廣泛用于PCB板的ICT測試，幫助檢測開(kāi)路、短路及元件缺失等問(wèn)題。

半導體行業(yè)：由于其高精度和高可靠性，PAM75-J1探針也常用于半導體芯片的老化測試和功能驗證。

4. 市場(chǎng)優(yōu)勢

品牌信譽(yù)：PAM75-J1探針由知名品牌生產(chǎn)，產(chǎn)品質(zhì)量有保障，市場(chǎng)認可度高。

全球供應：該產(chǎn)品支持全球發(fā)貨，提供多種支付方式，方便用戶(hù)購買(mǎi)和使用。

5. 未來(lái)展望

技術(shù)創(chuàng )新：隨著(zhù)電子技術(shù)的不斷進(jìn)步，PAM75-J1探針將繼續進(jìn)行技術(shù)升級，以滿(mǎn)足更高的測試要求和更廣泛的應用場(chǎng)景。

市場(chǎng)需求增長(cháng)：預計未來(lái)幾年，全球對高精度測試探針的需求將持續增長(cháng)，PAM75-J1探針的市場(chǎng)前景廣闊。

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