大電流探針常見(jiàn)的問(wèn)題有哪些？

大電流探針常見(jiàn)問(wèn)題

測試過(guò)程中的問(wèn)題

與DUT接觸不良：大電流探針未與被測設備（DUT）完全接觸，會(huì )影響信號或電流從DUT傳遞給測試人員，使用錯誤的探針尖端也可能導致接觸問(wèn)題。

彈簧探針力弱：彈簧探針的力是測試探針的壓力，力弱會(huì )影響與DUT的緊密接觸，不利于測試。

夾具板散熱效果不好：探針作為接觸大電流DUT的導體，在大電流測試過(guò)程中會(huì )散發(fā)熱量，若夾具板散熱效果差，會(huì )影響探針承載大電流的性能。

電流理解有誤：容易誤解連續電流和峰值電流，連續電流是連續提供的穩定值，而峰值電流是在供電期間出現的最高電流值。

連接方法不良：采用不良測試探針插座連接方法，以及普通的測試探針用于測試大電流DUT，都可能導致測試問(wèn)題，如標準接觸式探針在大電流測試中可能會(huì )被燒毀。

自身?yè)p壞問(wèn)題

滑動(dòng)夾子外觀(guān)損壞：電流探頭的滑動(dòng)夾子外觀(guān)損壞，可能會(huì )影響測試準確性。

電纜線(xiàn)斷路：電纜線(xiàn)被太使勁拉、扭等容易損壞，造成斷路，影響測試。

磁環(huán)及線(xiàn)圈問(wèn)題：磁環(huán)是易碎材料，掉地或使用時(shí)用力過(guò)猛會(huì )使其破損，有損壞的磁環(huán)會(huì )造成測試不準或不能再測出電流；磁環(huán)線(xiàn)圈比較細，過(guò)流會(huì )導致線(xiàn)圈燒毀。

電路板損壞：電流放大器開(kāi)電后，插拔電流探頭可能會(huì )引起電路板損壞。

讀數不準確問(wèn)題

內部電路故障：電流表（可類(lèi)比大電流探針檢測原理）內部電路可能存在故障，例如電源、線(xiàn)圈或靈敏度調節器出現問(wèn)題，導致指針移動(dòng)不當或錯誤，從而影響讀數。

電源電壓?jiǎn)?wèn)題：如果大電流探針使用的電源電壓低于或高于其規定的電源電壓，則可能導致錯誤的讀數。

磁場(chǎng)影響：大電流探針可能被暴露在磁場(chǎng)中，例如附近有強磁鐵或變壓器，這可能會(huì )導致測量結果不準確。

電路多余電流：電路中可能存在多余的電流，例如在電路中使用被非法連接的電子器件、過(guò)高的負載、導線(xiàn)損耗等引起的電阻變化等，這些因素可以導致測量不準確。